现代高速模数转换器（ADC）射频已经实现（RF）直接采样信号，因此在很多情况下不需要混频，同时也提高了系统的灵活性和功能。因此相匹配的（ADC）射频芯片RF测试座在测试中至关重要，传统上，ADC采用集总元件模型来表示信号和时钟输入。但是对于RF对于采样转换器来说，其工作频率已经增加到需要采用分布式表示的程度，那么原来的方法就不适用了。

从以下三个方面进行分析：

1、起决定性作用的S参数

S参数是基于入射微波与反射微波关系的网络参数。由于入射波与反射波的比率可用于计算输入阻抗、频率响应、隔离等指标，因此对电路设计非常有用。因为可以使用矢量网络分析仪（VNA）直接测量S参数，所以不需要知道网络的具体细节。

如入射波量为ax，反射波量为bx，其中x是端口。我们假设被测设备是线性网络，因此适合叠加法。在测量所有端口的反射波时，VNA一次只刺激一个端口(通过将入射波推到端口)。由于每个波量都有相应的振幅和相位，所测得的波量非常复杂。因此，该过程需要在每个测试频率下重复每个端口。

对于双端口器件，我们可以从测量数据中形成四个有意义的比率。通常使用这些比率sij表示，反射端口由i表示，入射端口由j表示。如上所述，假设一次只刺激一个端口，则其他端口的入射波为零（系统特性阻抗Z0表示终止)。

方程式1至4适用于四个双端口S参数。S11 andS22 分别表示端口1和端口2的复阻抗。S21表示传输特性，端口1为输入，端口2为输出（S12 但是端口2是输入，端口1是输出)。

S11=b1/a1，a2=0  (1)

S21=b2/a1，a2=0  (2)

S12=b1/a2，a1=0  (3)

S22=b2/a2，a1=0  (4)

对于单向器件，可以使用放大器(端口1为输入，端口2为输出)S11表示输入阻抗，用S21表示频率响应，使用频率响应S12表示反向隔离，使用S22表示输出阻抗。数据转换器也是一种单向装置，但其端口2通常是数字输出，这对测量和解释都有一定的影响。需要注意的是一定要详细的测试需求，根据详细的测试需求定制相应的射频芯片测试座。避免在测试时达不到预期测试效果。

2、将S参数扩展到多端口器件和差分器件

S参数框架可以扩展到任何数量的端口，有意义的参数数为2N，N表示端口的数量。由于振荡和共模抑制能力的提高，许多集成电路输入输出不同。射频采样ADC（如TI的ADC12DJ5200RF）差分射频输入和差分时钟输入通常可用。为了支持差分端口，我们还可以进一步扩展S参数框架。

对于差分端口来说，我们必须区分共模波和差模波。两种模式的入射振幅相同，但差模入射波相移180度，共模入射波相位相同。

对于端口之间没有反馈的线性设备，可以根据单端S参数（在任何给定的时间内，只有一个端口具有活动状态的入射波）的叠加方法来计算旅行混合模式S参数。现代高性能VNA还支持两个端口同时用差模或共模波刺激。

3、测量数据转换器S参数所面临的挑战

数据转换器的半模拟半数字特性对测量S参数提出了挑战。VNA数据转换器的数字总线不能直接连接，因此需要采用特殊的测量方法。

本系列文章的第二部分将介绍测量德州仪器射频采样数据转换器S参数的方法。第三部分将讨论如何在RF采样数据转换器系统的设计中使用S参数。

在谷易电子射频芯片、端口器件、模块、分立器件行业应用测试中，首要的是确认测试需求、详细规格参数。目前很多射频设备公司，虽然包装形式多样，但都有共同的特点，测试量不如传统MCU，逻辑芯片和其他芯片测试数量巨大，因此一般以工具的形式进行手动测试。此外，由于上述射频芯片测试对插件损伤的要求较高，测试座的设计、阻抗匹配和特殊性PCB设计结构复杂，有一定的衰减。这种成本和效率不同的方式不受这些公司的青睐。对于大型射频设备制造商来说，射频测试座仍然是主流需求，尤其是5G，随着快速发展，其需求仍然巨大，FT用于测试的射频ATE用于老化的测试座和测试座burnin射频测试座，都是重点。