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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SSD-flash测试夹具

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机器化BGA152-GA132下压转DIP48测试座SSD固态硬盘U盘老化座

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。



订购热线:19921126284

(电话微信同号)


厂家介绍:

谷易电子生产机器化BGA152-GA132下压转DIP48 测试座 SSD固态硬盘 U盘老化座,同时生产其他IC测试设备


特点1:采用转DIP48标准脚位,可插安国、芯邦、硅格、SMI、迈科微、建荣等任意测试板测试,为客户节约最大成本!


特点2:可测试BGA有锡球,无锡球,残球的芯片(其它品座只能测有锡球座)。
特点3:兼容强,适用BGA152/132/136/88座只需更换对应 的限位框(加多一个限位框 40元);

特点4:寿命是其它品牌的2倍以上