该产品经过了新的优化和设计。与上一代产品相比，测试更稳定，操作更方便，测试效率更高。

1.机械试验寿命达到10万次，使用寿命高于同类产品，保修期18个月，

2.支持带/不带球的同时测试，测试温度为-40℃-155℃。

3.改进了限位框和压块，保证了芯片的易接近性和接触稳定性，减少了误测。

4.探头采用氧化铍制作，更稳定，不易损坏。

5.手扣更长，手感更好，扣起来更方便。

6.上盖开启角度增加到105°，操作更加方便。

7.提高探头曝光率，使芯片放置更加稳定，减少芯片晃动对测试成品率的影响。

8.芯片取放位置改进，比上一代更容易。