BGA169-153测试座eMMC测试座_iNAND测试座_测试寿命长可换针_概述_性能_特点_规格_应用

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BGA封装系列

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BGA169-153测试座eMMC测试座_iNAND测试座_测试寿命长可换针

发表时间：2021-12-24 14:49:34浏览量：1376【小中大】

工厂介绍谷易电子生产BGA169-153测试座eMMC测试座_iNAND测试座_测试寿命长可换针，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SO...

工厂介绍

谷易电子生产BGA169-153测试座eMMC测试座_iNAND测试座_测试寿命长可换针，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector/IMU socket等。

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对eMMC169/153的IC芯片进行测试、读写、烧录

测试方法：

1.选择和IC匹配的限位框，把IC按方向平放入SOCKET内，

2.按方向插进空闲SD接口，连接电脑或者编程器进行相应的测试、烧录。

适用封装:

eMMC169/153 引脚间距0.5mm

特点:

1、采用标准SD接口模式，通过读卡器与电脑连接或通过编程器SD接口连接实现测试或烧录等相应操作

2、兼容有球无球测试（测有球更稳定），IC限位框CNC机加工，可根据IC选择不同大小限位框进行更换，实现不同大小IC能够测试。

3、支持热拔插，支持通过SD接口或通过连线与板上测试点连接进行测试

4、结构采用机加工，定位精准，取放IC方便，工作效率更