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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
发表时间:2025-09-03 09:31:09浏览量:186【小中大】
定制芯片测试座,是企业针对自有芯片研发、测试需求,以内部设计的 “布板图”(即 PCB Layout 图)为核心,自主完成 PCB 板制作后,再配套研发测试座的设备方案。其核心特征是 “PCB 板源于自身设计”,本质是为适配自有芯片的电路需求搭建测试载体。
企业在研发芯片时,会根据芯片的引脚定义、供电需求、信号传输路径等核心参数,设计专属的布板图(PCB Layout)。定制芯片测试座的 PCB 板,需严格遵循该布板图制作 —— 小到 PCB 板的层数、走线宽度,大到接口位置、元器件布局,均以 “满足自有芯片的测试需求” 为目标。例如,若企业研发的是高频率信号芯片,布板图会重点优化信号阻抗匹配,对应的测试座 PCB 板也会按此设计,避免信号干扰影响测试精度。
定制芯片测试座的流程以 “我司布板图” 为起点,根据谷易定制芯片测试座工程师介绍:整体可分为三步:
第一步:确认芯片参数与测试需求,完成布板图设计(内部研发团队主导);
第二步:按布板图生产 PCB 板(可自主生产或委托第三方加工,核心是保证与布板图一致);
第三步:基于制作完成的 PCB 板,定制测试座的机械结构(如引脚接触模块、固定支架)与电气连接部分,确保测试座与 PCB 板精准对接,实现芯片的供电、信号传输与数据采集。
这类测试座主要用于企业 “自有芯片的前期研发与小批量测试”。例如:
芯片研发阶段:验证芯片的功能完整性(如是否能正常输出信号、是否满足电压范围),此时无客户 PCB 板,需通过自有布板图制作 PCB,搭建专属测试环境;
企业内部质量抽检:小批量生产的芯片,需通过自有测试座快速验证性能,无需依赖外部客户的 PCB 板。
芯片测试治具,根据谷易电子定制芯片测试座工程师介绍:是企业根据客户提供的成品 PCB 板(即客户终端产品中使用的 PCB),定制适配该 PCB 板的测试座,最终形成的一体化测试工具。其核心特征是 “PCB 板源于客户提供”,本质是为验证 “芯片与客户 PCB 板的兼容性” 搭建测试桥梁。
客户提供的 PCB 板已固化了终端产品的电路设计(如接口定义、元器件布局、供电线路),芯片测试治具的核心目标是 “让芯片在客户的 PCB 板上实现稳定测试”。因此,测试座的设计需完全匹配客供 PCB 板的参数:例如,PCB 板上芯片的焊接点位、引脚间距、周边元器件的避让空间,均成为测试座机械结构与电气接触点的设计依据,无需自主制作 PCB 板。
芯片测试治具的流程以 “客供 PCB” 为起点,整体可分为三步:
第一步:接收客户提供的 PCB 板及相关参数(如芯片安装位尺寸、引脚分布、测试点位);
第二步:扫描或解析客供 PCB 板的物理结构与电路逻辑,设计测试座的接触探针位置、固定方式(需避开 PCB 板上的其他元器件,防止干涉);
第三步:制作测试座,并与客供 PCB 板组装成治具,验证芯片在该 PCB 板上的兼容性(如是否能正常通电、信号是否能稳定传输)。
这类治具主要用于 “芯片交付客户后的兼容性测试”,例如:
客户批量采购前的验证:客户提供终端产品的 PCB 板,企业通过测试治具验证芯片是否适配该 PCB,避免批量装机后出现兼容性问题;
客户售后故障排查:若客户反馈芯片在其 PCB 板上工作异常,企业可通过对应的测试治具复现问题,定位是芯片问题还是 PCB 板设计问题。
为更直观区分,我们从 5 个关键维度对二者进行对比:
对比维度 |
定制芯片测试座 |
芯片测试治具 |
PCB 板来源与依据 |
依据 “我司布板图” 自主制作 |
客户提供成品 PCB 板,无需自主制作 |
核心设计目标 |
适配自有芯片的测试需求,验证芯片本身性能 |
适配客供 PCB 板,验证芯片与 PCB 的兼容性 |
设计主导方 |
企业内部研发团队(基于自有技术参数) |
企业对接客户需求(基于客户 PCB 参数) |
应用阶段 |
芯片研发期、企业内部测试期 |
芯片交付客户前、客户售后排查期 |
灵活性 |
可随自有芯片参数调整布板图,灵活性高 |
受客供 PCB 板结构限制,调整空间小 |
定制芯片测试座与芯片测试治具的差异,本质是 “测试载体来源” 的差异 —— 前者以 “自有布板图” 为核心,服务于芯片本身的性能验证;后者以 “客供 PCB” 为核心,服务于芯片与客户终端的兼容性验证。
在实际应用中,企业需根据测试目标选择:根据谷易电子定制芯片测试座工程师介绍:若需验证自有芯片的基础性能,优先选择定制芯片测试座;若需验证芯片与客户产品的适配性,芯片测试治具是必然选择。明确二者的核心差异,可避免测试设备选型失误,提升芯片测试效率与准确性。
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