
服务热线 13823541376
深圳市谷易电子有限公司
联系电话:13823541376
联系人:兰小姐
邮箱:sales@goodesocket.com
主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
202503/18
CP测试(Chip Probing,晶圆测试)与FT测试(Final Test,成品测试)作为半导体制造流程中的核心环节,直接影响芯片的良率与可靠性。本文将从...
202503/12
在物联网、5G通信、人工智能和自动驾驶技术的推动下,全球集成电路产业正经历两大变革:高速数据处理的爆发式增长与芯片封装密度的极限压缩。面对GP...
202503/10
一、芯片老化测试的核心要求与标准 芯片老化测试是评估器件可靠性的关键环节,主要涵盖以下测试类型: 1. HTOL(高温工作寿命测试...
202503/05
一、主流电源管理芯片封装类型与特点 国产电源管理芯片在封装技术上持续突破,针对不同场景需求,主流封装形式包括: 1. BGA封装(如LTM...
202502/27
智能AI芯片的核心类型与特点 智能AI芯片根据架构与场景需求可分为五大类: 1. GPU(图形处理器): &nb...
扫一扫关注官方微信