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3C锂电池连接器大电流弹片微针模组

      当前,锂电池产品测试的难点在于电流大(充放电过流保护测试项目要求过4.5-40A这个范围),传统的探针测试治具里探针可过电流至多只能达2A,所以就没有办法用传统探针治具来进行测试。现在......

提供d-摄像头及触摸IC解决方案

1、采用手动翻盖/手自一体,定位精确,操作方便 2、采用进口镀金探针和防静电材料(Torlon、PEI、PPS、PEEK) 3、压板自动调节对IC的压力,保证下压力均匀;探针自适应能力强,对残球、锡球不均的IC都能......

Nand Flash 半自动测试机台

谷易电子为您提供Nand Flash半自动测试机台系列可用于BGA152/132 / TSOP48 / TF / COB(長) / COB(短)...

提供eMMC/eMCP测试解决方案

采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位...

发展历程

每一年我们都向前迈进一小步

谷易介绍

20年用心质造,国内外IC测试座品牌供应商

19年前,谷易电子于深圳华强北起家,创始人发现中国人一直都是用进口的测试座,价格非常昂贵且没有售后可言,于是萌生了一定要让中国人用上物美价廉的优质IC测试座的想法。经过19年的深耕细作,已成为今天集科研、生产、销售于一体的技术型高新企业。并在苏州/武汉/深圳设立生产工厂,成立IC测试座研发中心,配备高学历经验丰富的高级工程师,引进全套日本进口的检测仪器设备。凭借自身完善的质量保证体系,已实现技术开发、生产装配、质量检测、老化筛选、大批量生产流程的规范化管理。...

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新闻动态

官方发布的最新动态或消息

如何将散射参数(S参数)应用在直接射频采样结构的设计上?谷易电子射频芯片测试座!

2022-11-16
新闻动态
现代高速模数转换器(ADC)射频已经实现(RF)直接采样信号,因此在很多情况下不需要混频,同时也提高了系统的灵活性和功能。因此相匹配的(ADC)射频芯片RF测试...

芯片测试探针如何选用?在IC测试治具中起到什么作用?谷易电子!

2022-11-01
公司新闻
半导体探针在IC测试治具的作用是什么?主要是提高工具的耐久性IC测试探头的设计使其扭簧空间大于常规探头,因此可获得更长的使用寿命。   举例说明: 以下是LPD...

半导体芯片老化测试之谷易电子老化测试座

2022-10-26
公司新闻
半导体芯片老化座: 半导体芯片探针老化座产品是半导体封装和检测中需要使用的重要耗材。半导体芯片测试座是一种高端的精密夹具,...

芯片测试Wafer Level之芯片测试座!

2022-10-24
公司新闻
其实IC测试已经融入到集成电路制造的全过程中,不仅仅是单一的IC封装后进行,芯片测试座又是芯片测试中不可或缺的一部分,原因...

IMU惯性传感器芯片的封装测试与测试座介绍

2022-10-19
公司新闻
3D加速度计传感器是IMU的一种,IMU是InertialMeasurementUnit这是一个惯性测量单元,它包括三个传感器:加速度计、陀螺仪...
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