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3C锂电池连接器大电流弹片微针模组

      当前,锂电池产品测试的难点在于电流大(充放电过流保护测试项目要求过4.5-40A这个范围),传统的探针测试治具里探针可过电流至多只能达2A,所以就没有办法用传统探针治具来进行测试。现在......

提供d-摄像头及触摸IC解决方案

1、采用手动翻盖/手自一体,定位精确,操作方便 2、采用进口镀金探针和防静电材料(Torlon、PEI、PPS、PEEK) 3、压板自动调节对IC的压力,保证下压力均匀;探针自适应能力强,对残球、锡球不均的IC都能......

Nand Flash 半自动测试机台

谷易电子为您提供Nand Flash半自动测试机台系列可用于BGA152/132 / TSOP48 / TF / COB(長) / COB(短)...

提供eMMC/eMCP测试解决方案

采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位...

发展历程

每一年我们都向前迈进一小步

谷易介绍

20年用心质造,国内外IC测试座品牌供应商

19年前,谷易电子于深圳华强北起家,创始人发现中国人一直都是用进口的测试座,价格非常昂贵且没有售后可言,于是萌生了一定要让中国人用上物美价廉的优质IC测试座的想法。经过19年的深耕细作,已成为今天集科研、生产、销售于一体的技术型高新企业。并在苏州/武汉/深圳设立生产工厂,成立IC测试座研发中心,配备高学历经验丰富的高级工程师,引进全套日本进口的检测仪器设备。凭借自身完善的质量保证体系,已实现技术开发、生产装配、质量检测、老化筛选、大批量生产流程的规范化管理。...

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新闻动态

官方发布的最新动态或消息

QFN56(8*8)0.5间距下压弹片老化座

2022-06-16
公司新闻
QFN56-0.5翻盖弹片测试座 产品简介 产品用途:编程座、测试座,对QFN56的IC芯片进行烧写、测试 适用封装:QFN56引脚间距0.5mm 测试座:QFN56-0.5 特点:采用U型...

QFN32-0.35/0.4/0.5间距4×4烧录座老化座下压镀金弹片

2022-06-16
公司新闻
产品简介 A、产品用途:编程座、测试座,对QFN32的IC芯片进行老化、测试 可用于作HOTL\HAST老化试验 B、适用封装:QFN32 C、测试座:QFN32-0.4/0.35*0.5...

谷易电子最新一代BGA132/152翻盖探针测试座

2022-03-10
公司新闻
该产品经过了新的优化和设计。与上一代产品相比,测试更稳定,操作更方便,测试效率更高。    1.机械试验寿命达到10万次,使用...

谷易电子TO老化座让国产碳化硅功率器件测试效率更高

2022-02-22
公司新闻
      近年来,受益于航空航天、国防军工、5G通信、智能电网领域、新能源光伏、新能源汽车等领域的发展,碳化硅需求增速强劲...

定制芯片测试座需要提供那些资料?

2021-10-08
常见问题
IC socket 定制须知           工厂介绍 深圳谷易电子生产的IC老化测试座,同时我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非...
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