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3C锂电池连接器大电流弹片微针模组

      当前,锂电池产品测试的难点在于电流大(充放电过流保护测试项目要求过4.5-40A这个范围),传统的探针测试治具里探针可过电流至多只能达2A,所以就没有办法用传统探针治具来进行测试。现在......

提供d-摄像头及触摸IC解决方案

1、采用手动翻盖/手自一体,定位精确,操作方便 2、采用进口镀金探针和防静电材料(Torlon、PEI、PPS、PEEK) 3、压板自动调节对IC的压力,保证下压力均匀;探针自适应能力强,对残球、锡球不均的IC都能......

Nand Flash 半自动测试机台

谷易电子为您提供Nand Flash半自动测试机台系列可用于BGA152/132 / TSOP48 / TF / COB(長) / COB(短)...

谷易电子提供eMMC/eMCP测试解决方案

采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位...

发展历程

每一年我们都向前迈进一小步

谷易介绍

20年用心质造,国内外IC测试座品牌供应商

19年前,谷易电子于深圳华强北起家,创始人发现中国人一直都是用进口的测试座,价格非常昂贵且没有售后可言,于是萌生了一定要让中国人用上物美价廉的优质IC测试座的想法。经过19年的深耕细作,已成为今天集科研、生产、销售于一体的技术型高新企业。并在苏州/武汉/深圳设立生产工厂,成立IC测试座研发中心,配备高学历经验丰富的高级工程师,引进全套日本进口的检测仪器设备。凭借自身完善的质量保证体系,已实现技术开发、生产装配、质量检测、老化筛选、大批量生产流程的规范化管理。...

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谷易电子半导体芯片测试夹具与芯片老炼测试夹具的区别

2025-06-18
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应用场景与目的差异 半导体芯片测试夹具主要用于芯片生产过程中的各类常规测试环节,目的在于快速筛选出有功能性缺陷的芯片。在芯片制造完成封装后,利用测试夹具连接测试设...

什么是芯片测试?芯片为什么要测试?如何选芯片测试座?

2025-06-16
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一、什么是芯片测试 芯片测试,简单来说,是指对集成电路芯片的功能、性能、可靠性等进行测试和验证的一系列工作。在检测过程中,会全面检查芯片的各个部分是否达到设计要求...

谷易电子芯片测试座工程师带您了解LGA芯片高性能测试解决方案

2025-06-10
新闻动态
一、LGA封装芯片的核心特点与应用场景   LGA(Land Grid Array)封装通过底部焊盘阵列实现无引脚连接,兼具...

芯片可靠性之锚:谷易电子HTOL测试座与老化板产品解决方案

2025-06-03
新闻动态
芯片在现代电子系统中的重要性不言而喻,而其长期可靠性更直接决定了终端产品的质量与安全。尤其在汽车电子、航空航天和人工智能...

谷易电子2012/3216/5025/6332/7142电阻老化测试座解决方案

2025-05-21
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随着新能源汽车、5G通信与工业自动化领域的快速发展,高功率密度场景对电阻器件的可靠性提出了严苛要求。2012、3216、4520、502...
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